在 JTIC 2021 法国见面

KPM Analytics团队将参加11月23日至24日在法国图尔举行的JTIC活动。

加入我们 展位 #18 了解我们的解决方案,以帮助您在重要的地方衡量质量,包括:

  • 在线或实验室快速分析面粉、小麦和副产品:SpectraStar™ XT-F 近红外分析仪
  • 确定面包实验室中成品的尺寸、缺陷和颜色:视觉检测解决方案 TheiAVU™
  • 测量揉捏过程中的面团特性以及蛋白质和淀粉的质量:Mixolab 2 分析仪

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我们期待着见到你!

媒体联系人:梅兰妮·斯科特
电子邮件:mscott@kpmanalytics.com
电话:+1 314-704-0053