Papier i konwersja

Producenci papieru i przetwórstwa mają wyzwanie, aby spełnić wysokie standardy jakości dzięki wysoce zmiennemu produktowi. Poziom wilgotności wpływa na wydajność procesu, zużycie energii, gospodarkę odpadami i jakość, a pomiar wilgoci zapewnia użyteczny produkt i zmniejsza koszty energii. Pomiar masy powłoki, grubości kleju lub lakieru zmniejsza koszty związane ze zużyciem i zapewnia jednolitą jakość.

Pomiary w bliskiej podczerwieni (NIR) stanowią ekonomiczną alternatywę dla wysoce regulowanego pomiaru jądrowego. Analizatory NIR są łatwe w instalacji, kalibracji i konserwacji, przy wyjątkowo niskich kosztach eksploatacji w porównaniu z innymi technologiami, takimi jak ultradźwięki, mikrofalówki i czas lotu. Pomiar on-line masy powłoki i wilgotności przyspiesza uruchamianie, zmniejsza koszty energii i złomu oraz poprawia kontrolę jakości, jednocześnie umożliwiając archiwizację danych typu roll-to-roll lub prowadzoną przez klienta.

Analizatory procesowe RF (częstotliwości radiowej) wykorzystują penetrujące fale radiowe do określania zawartości wilgoci w całej grubości próbki. Analizatory jednopunktowe, macierzowe i ręczne zapewniają różnorodne opcje pobierania próbek, od w pełni zintegrowanego profilowania wilgoci w procesie po kontrolę jakości na linii. Analizatory RF są szeroko stosowane w wielu procesach przemysłowych.

KPM Analytics zapewnia instrumenty i wsparcie od początkowego zakresu i oszacowania potencjalnego zwrotu z inwestycji po instalację i integrację systemu pomiarowego z responsywnym wsparciem po sprzedaży. Przejrzyj naszą ofertę produktów NIR i RF i dowiedz się więcej o sposobach analizy wilgoci i innych ważnych składników.